6、良好的温度控制设备，仪器对外界的气温变化不敏感；
7、对样品形态要求少，固体、液体、粉末样品均可以直接检测，无需复杂的制样过程；
8、采用SDD探测器，分析速度快，精确度高，稳定性好，故障率低；
9、WINDOWS系统下的中文操作软件，方便国内用户使用。不同层次的操作员可随时调用相关帮助菜单来指导对仪器的操作。
●仪器主要构成图
●主要技术指标：
1． 探测器
-- SDD硅漂移探测器（电制冷，只需要通电即可）
--典型分辨率：123ev,133ev(50000CPS).
--输入计数率：100KCPS，远大于Si-Pin与Si-Li(是其10倍左右)
--峰背比：>20000
--铍窗厚度：8um Dura Be（一般的探测器在25um,对轻元素有更好的透过率，独特的Dura技术
Be窗可以耐酸，碱的腐蚀）
--处理器：数字电路，放大倍数，时间常数可任意设置。
--高寿命，借助于其独特的Dura Be技术，探测器在几年的时间内探测器的真空不会变坏，晶体不会损伤，无需担心后期的维护费用
2. X射线管
--高压：0-50Kv连续可调
--电流：0-1000uA连续可调 （0-2500uA可选，大电流对Na-K有更好的激发效果）
--功率：50W
--稳定性：8小时0.2%
--高寿命，正确操作的情况下寿命可以达到50000小时
3. 高压发生器
--输入电压：24VDC
--输入电流：4A
--输出电压：50Kv，1mA(2.5mA可选，适配2500mA光管)
--最大功率：50W
--稳定性：8小时0.05%
4. 精密结构设计
--垂直倒角设计，精密的控制保证优异的重复性，上照式设计可以完全避免灰尘的污染，使得仪器可以做到真正的免维护
5. 冷却散热系统
--良好的多级温控自反馈电路，室温在5-25℃，仪器结果不会有影响。
6.自动进样系统
--8样品自动进样
● 光谱分析系统控制和数据处理系统
--12位模/数转换器
--19英寸显示器
--500G以上硬盘驱动
--多功能标准键盘
--打印机
● 分析软件
--元素测量范围：Na-U
--可以测量镀层厚度
--标准曲线法，理论系数法，基本参数法，多元比例法 使您轻松应对各种样品的分析
--开放式软件设计，您可以自己开发新的工作曲线
--内置式参数设计，您在自己制作工作曲线时，各种干扰自动扣除。
● 尺寸规格
--长900mm宽500mm高620mm --重量约100kg
● 电源要求
--220V±10% 50Hz
● 工作环境
--温度范围：5—30℃。
--相对湿度小于等于80%
技术附件
序号
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供货范围
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规格型号
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数量
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生产厂家及配套单位
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1
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X射线荧光光谱仪
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DF-1000
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1台
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东仪
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2
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打印机
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EpsonLQ300
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1台
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爱普森科技有限公司
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3
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品牌计算机
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Lenovo
|
1台
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联想集团
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4
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样品盒
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点击数：370 录入时间：2013-04-14 11:34:30 【 打印此页】 【 关闭】 |
